AEC车载电子元器件应力认证振动冲击测试介绍

  新闻资讯     |      2021-07-19 08:33:03

AEC系列振动、冲击测试的目的

AEC系列振动测试旨在评估电气设备中使用的部件。它的目的是确定部件承受由运输或现场操作产生的运动引起的中等到严重振动的能力。这种类型的振动可能会干扰工作特性。特别是重复的应力会导致部件疲劳破坏。这是一种用于部件鉴定的破坏性试验。

 

振动、冲击测试的夹具设计及其要求

振动、冲击试验中夹具的主要功能是将振动、冲击台产生的能量传递给试件,一个好的夹具应至少满足下列要求:

1) 能方便的将试件固定到台面上;

2)在整个试验频率范围内,夹具的频响特性要平坦,夹具的第一阶固有频率应高于最高试验频率,还应避免夹具与产品的共振耦合;

3)夹具与产品的连接面上的各个连接点的相应要尽量一致,以确保试验时的激励输入的均匀性;

4)夹具的刚度和质量比要足够大。

AEC系列振动测试标准及测试条件

接受条件:0失效

测试方法:JEDEC JESD22-B103

标准

测试对象

测试数量

测试条件

AEC Q100

集成电路

15

20Hz~2000Hz~20Hz(对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下

AEC Q101

离散半导体

仅针对密封件

20Hz~100Hz 峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g;

AEC Q102

离散光电半导体器件

3批次中各取10个

20Hz~100Hz 峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g;

AEC Q103-002

微机电系统(MEMS)压力传感器器件

3批次中各取39个

M1等级:20Hz~2000Hz~20Hz(对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g
M2等级:10Hz~2000Hz~10Hz(对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g
备选方案:由任务文件制定

AEC Q103-003

微机电系统(MEMS)麦克风器件

3批次中各取12个

20Hz~2000Hz~20Hz(对数扫频)<12min,每轴向4次;峰值加速度20g;测试前后的性能检查在常温下

AEC Q104

多芯片模块(MCM)

15

20Hz~2000Hz~20Hz(对数扫频)>4min,每轴向4次;峰值加速度50g;测试前后的性能检查在常温下

 

AEC系列冲击测试标准及测试条件

接受条件:0失效

测试方法:JEDEC JESD22-B110

标准

测试对象

测试数量

测试条件

AEC Q100

集成电路

15

仅Y1平面,5次冲击,脉冲持续时间0.5ms,峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。

AEC Q101

离散半导体

仅针对密封件

1500g,0.5ms,5次/方向,±XYZ共30次,前后都要测试电气参数

AEC Q102

离散光电半导体器件

3批次中各取10个

1500g,0.5ms,5击,3次/方向。

在MS前和MS后的测试,或仅在CA前和MS后进行测试。

AEC Q103-002

微机电系统(MEMS)压力传感器器件

3批次中各取39个

M1级:

•测试条件:每轴双向5个脉冲,0.3ms持续时间,6000g峰值加速度等级M2:

•测试前:下列每次测试#G3的恒定加速度(CA)

•测试条件:每轴双向10个脉冲,0.3ms持续时间,6000g峰值加速度

替代测试条件:依照任务剖面(安装位置定义的机械条件)

室温下MS前后测试。

后测试:IV(PS11)和WBP(C2)进行5个装置的测试。

AEC Q103-003

微机电系统(MEMS)麦克风器件

3批次中各取12个

3个脉冲,0.5毫秒持续时间,在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室温下进行震动前后测试。

AEC Q104

多芯片模块(MCM)

15

仅Y1平面,5次冲击,脉冲持续时间0.5ms,峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。







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